A 시리즈는 반도체와 마이크로일렉트로닉스에서 요구되는
가장 작은 엑스레이 기능이 필요한 정밀한 측정을 위해 설계되었습니다.
Poly-caplilary Optics를 사용하여 7.5um FWHM의 작은 점에 엑스레이를 집중 조사하며,
높은 해상도의 Large window SDD 검출기를 사용하여 시료를 정밀하게 분석합니다.
600mm 의 이동 거리를 가지므로 PCB 측정을 위한 자동화 장비에서 사용할 수 있습니다.
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