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 XRF 도금 두께 측정 및 원소 분석 시스템을 정확히 교정하기 위한 참조용 표준 시편을 공급합니다. XRF 분석 장비의 인증을 통해 귀하의 XRF 장비를 NIST* 표준에 맞게 교정 및 인증하고, 또한 귀하가 사용하시는 표준시편을 검교정합니다. XRF 인증 절차는 Bowman의 ISO / IEC 17025 공인 연구소에서 진행됩니다. *National Institute of Standards and Technology 공급 가능한 시편을 확인하십시오.  동 도금 두께측정 용 표준 시편과 프로브 (CMI-700,500,165 용) 도막 두께 측정 용 SHIM 표준 시편과 프로브 (CMI-150, 200 용) X-ray Tube 공급 및 측정기 수리 서비스 제공 성분 분석과 두께측정을 위한 솔루션 씨엠아이측정기(주) |
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